IFM_201605 całość l - page 30

vol. 5 5/2016 Inżynier i Fizyk Medyczny
256
diagnostyka
\
diagnostics
artykuł
\
article
się na podstawie mAs dobranego przez aparat dla rutynowej
ekspozycji 4,5 cm PMMA (mAs
ref
). Według [IAEA_HSS_17] przy-
kładem odpowiedniego zakresu jest od 1/8 do czterokrotności
mAs
ref
, wg [8] od 0,1 do pięciokrotności mAs
ref
. Żaden z tych do-
kumentów nie przewiduje uzależniania zakresu od maksymalne-
go dostępnego obciążenia prądowo-czasowego. Sprawdzeniu
ma podlegać odpowiedź detektora w zależności od dawki w za-
kresie, w jakim jest on rzeczywiście stosowany, stąd propozycja
uzależnienia zakresu mAs od ekspozycji rutynowej. Wprowadze-
nie wartości sugerowanych przez [8] pozwoliłoby na uniknięcie
sytuacji, w której dla mammografów wykonujących badania
przesiewowe test należy wykonywać na dwa różne sposoby.
Zalecenie 45 (MAM.C.7)
Dla systemów liniowych podczas testów opisanych w 7.1
i 7.2 należy sprawdzać korelację, korzystając ze współczyn-
nika korelacji liniowej Pearsona.
Zalecenie 46 (MAM.C.7)
Dla systemów nieliniowych, jeżeli nie jest znana teoretyczna
zależność wartości pikseli lub wskaźnika ekspozycji od daw-
ki lub kermy otrzymywanej przez detektor obrazu, można
odstąpić od oceny wyniku testów opisanych w 7.1 i 7.2.
Zgodnie z Rozporządzeniem podczas testów sprawdzane są
korelacje:
––
dla systemów liniowych: średniej wartości pikseli z obciąże-
niem prądowo-czasowym;
––
dla systemów nieliniowych: wskaźnika ekspozycji z obciąże-
niem prądowo-czasowym;
––
dla systemów liniowych: kwadratu standardowego odchyle-
nia wartości pikseli z obciążeniem prądowo-czasowym;
––
dla systemów nieliniowych: kwadratu standardowego
odchylenia wartości pikseli z odwrotnością obciążenia
prądowo-czasowego.
Podczas Spotkania dyskutowano o sposobie wykonania te-
stów dotyczących odpowiedzi detektora obrazu. Wydaje się
być on oczywisty dla systemów liniowych, w których średnia
wartość pikseli liniowo zależy od dawki, czyli dla praktycznie
wszystkich systemów DR. Dla tych systemów należy sprawdzać
korelację, zakładając, że jest ona liniowa, tzn. stosując współ-
czynnik korelacji liniowej Pearsona.
Dla systemów nieliniowych, czyli głównie systemów CR, nie
jest jasne, w jaki sposób należy oceniać korelację. Wskaźnik eks-
pozycji jest różnie definiowany przez różnych producentów i nie-
koniecznie jest liniowo zależny od dawki. Zależność wskaźnika
ekspozycji od dawki może być logarytmiczna, możliwa jest też
proporcjonalność wskaźnika ekspozycji do odwrotności dawki.
W takich przypadkach nie ma powodu, żeby oczekiwać liniowej
korelacji pomiędzy wskaźnikiem ekspozycji a obciążeniem prą-
dowo-czasowym. Jeżeli z kolei wartość pikseli w systemie nie-
liniowym jest proporcjonalna do logarytmu z dawki, kwadrat
standardowego odchylenia wartości pikseli nie będzie liniowo
proporcjonalny do odwrotności obciążenia prądowo-czasowe-
go. Dla systemów nieliniowych brak korelacji liniowej nie będzie
więc oznaczał nieprawidłowego działania aparatu.
Dla systemów nieliniowych poprawne wykonanie testów
wymagałoby znajomości teoretycznej zależności między war-
tościami pikseli lub wskaźnikiem ekspozycji a dawką lub kermą
otrzymywaną przez detektor (która jest liniowo proporcjonalna
do obciążenia prądowo-czasowego). Dokument źródłowy za-
wiera wskazówki ([12], Tabela 15, s. 94) opisujące, w jaki sposób
należy przekształcić wskaźnik ekspozycji stosowany dla danego
producenta i obciążenie prądowo‑czasowe, aby uzyskać korela-
cję liniową:
Producent
Wskaźnik ekspozycji
Oś X
Oś Y
Fuji, Philips, Konica
S#
mAs
S# × mAs
Agfa
SALlog
log(mAs)
SALlog
Agfa
SAL
mAs
SAL/√mAs
Agfa
PVIlog
log(mAs)
PVIlog
Carestream
EI
log(mAs)
EI
Zgodnie z dokumentem IAEA [12] po wykonaniu takiego prze-
kształcenia należy oczekiwać liniowej zależności między wielkościa-
mi na osiach X i Y. Należy jednak pamiętać, że tabela może nie obej-
mować wszystkich rozwiązań dostępnych na rynku oraz że nawet
w przypadku producentów objętych tabelą oferowane przez nich
rozwiązania i definicje wskaźników ekspozycji mogą się zmieniać.
Podczas dyskusji pojawił się głos, zgodnie z którym w przy-
padku części systemów CR istnieje liniowa korelacja między
wartością pikseli w potędze trzeciej a obciążeniem prądowo-
czasowym. Nie wiadomo jednak, czy jest to ogólna reguła, nie
są też znane teoretyczne podstawy do sformułowania takiej
zależności.
MAM.C.8.Czułość płyt obrazowych
Zalecenie 47 (MAM.C.8.2)
Test dotyczący porównania czułości płyt obrazowych należy
wykonać dla obrazów nieprzetworzonych.
Według dokumentu źródłowego [8] obrazy, z których odczy-
tuje się SNR, mają być obrazami nieprzetworzonymi. Wyniki
otrzymane na podstawie analizy obrazów przetworzonych mo-
głyby być przypadkowe.
ST.Stomatologia
ST.4.Warstwa półchłonna
Zalecenie 48 (ST.4)
Dla aparatów stomatologicznych o filtracji całkowitej
2,5 mm Al pracujących w trybie stałopotencjałowym, w za-
kresie oceny warstwy półchłonnej należy do końca okresu
przejściowego stosować łagodniejsze wymagania (z rozpo-
rządzenia sprzed nowelizacji).
1...,20,21,22,23,24,25,26,27,28,29 31,32,33,34,35,36,37,38,39,40,...64
Powered by FlippingBook